[发明专利]一种集成电路测试方法及系统有效
| 申请号： | 202310206780.4 | 申请日： | 2023-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN116203393B | 公开（公告）日： | 2023-09-26 |
| 发明（设计）人： | 徐振;彭安斋 | 申请（专利权）人： | 杭州朗迅科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 北京一诺通成知识产权代理事务所(普通合伙) 16145 | 代理人： | 龚春娟 |
| 地址： | 310059 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试方法，包括：预先配置指令测试模板，所述指令测试模板中具备指令匹配方式、指令类型以及指令操作资源获取方式；拦截原始测试指令，并对所述原始测试指令进行解析，确定所述原始测试指令所对应的指令类型和配置资源；根据确定的指令类型，选择对应的指令测试模板，并根据该指令测试模板和配置资源，生成指令测试事务包；发送指令测试事务包至集成电路测试下位机侧的解码器上，促使解码器解析所述指令测试事务包，获取测试指令并控制集成电路测试下位机进行指令测试。本发明能够在不修改原有各类设备测试指令的情况下，协同实现对昂贵硬件的硬件设备分时共享，从而实现一机多控，一机多任务并行测试的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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