[发明专利]一种电子器件动态老炼试验装置及试验方法在审
| 申请号： | 202310226161.1 | 申请日： | 2023-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN116148646A | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 陆孜健;陈康杰;韩碧涛;杨兴;周斌 | 申请（专利权）人： | 西安京瀚禹电子工程技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G01R31/3181;G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 西安智典联合专利代理事务所(普通合伙) 61299 | 代理人： | 张鹏 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市高新*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于元器件检测技术领域，公开了一种电子器件动态老炼试验装置及试验方法，包括用于对配置芯片下载老炼程序的程序配制模块，用于利用上位机对通过老炼板发送并行激励的并行激励模块，用于当器件工作时，利用老炼板背部的回检通道向上位机发送输出回检信号的回检模块，用于利用示波器对器件的工作状态及电性能进行显示的显示模块。本发明按照设计的老炼板能够对器件进行动态老炼试验，解决了此器件无动态老炼检测能力，解决了现场可编程门阵列器件‑FPGA不能动态老炼的缺陷，解决了现有FPGA芯片老炼试验方法对于器件内部节点、电介质、导电通路的电气特性全面考察完全达不到的老炼试验的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子器件 动态 试验装置 试验 方法 | ||
【主权项】：
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