[发明专利]一种基于光度线性化的光度立体表面重建方法及设备在审
| 申请号： | 202310230083.2 | 申请日： | 2023-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN116385636A | 公开（公告）日： | 2023-07-04 |
| 发明（设计）人： | 严思杰;杨一帆;易淑茗;刘宏伟;岳晶;丁汉 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06T17/00 | 分类号： | G06T17/00;G01B11/25;G06T15/50;G06V10/764 |
| 代理公司： | 武汉知伯乐知识产权代理有限公司 42282 | 代理人： | 任苗苗 |
| 地址： | 430000 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于三维测量技术领域，并具体公开了一种基于光度线性化的光度立体表面重建方法及系统。包括：对光源进行标定，以确定点光源方向；采集不同光源方向下待测物体的灰度图像，并对图像进行预处理；采用光度线性化方法将图像进行光度线性化；根据光度线性化的图像，得到图像像素强度，并根据像素强度对光度因子进行分类，以获取漫反射分量；根据所述漫反射分量，采用光度立体的表面辐照度方程求解物体表面点的法向量，并对待测物体的表面进行重建。本发明简化了高光和阴影的提取过程，可以准确快速地提取图像中的高光和阴影因子，获得良好的漫反射图像，提高了光度方法重建表面的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光度 线性化 立体 表面 重建 方法 设备 | ||
【主权项】：
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