[发明专利]一种基于改进YOLOv5的表面微小缺陷检测的方法在审
| 申请号： | 202310240939.4 | 申请日： | 2023-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN116468663A | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 郑太雄;尹纶培 | 申请（专利权）人： | 重庆邮电大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06N3/08;G06V10/80;G06V10/42;G06N3/0464 |
| 代理公司： | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人： | 廖曦 |
| 地址： | 400065 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于改进YOLOv5的表面微小缺陷检测的方法，属于目标检测领域。该方法包括如下步骤：S1，数据集制作，划分数据集；S2，对YOLOv5改进，在Backbone添加CBAM注意力机制；S3，在Neck三种检测尺度的基础上，增加小目标检测尺度；S4，在Head采用DecoupledHead解耦头的改进提高网络精度；S5，模型训练，导入数据集，结合预训练权重并设置参数后训练，用数据集验证效果；S6，缺陷检测，输出两种图整合后的缺陷信息。本发明对典型的亮面、暗面、光面、磨砂面、纹理面等物体的表面缺陷进行识别，识别出常见的大尺寸、中尺寸、小尺寸、微小尺寸的缺陷，能够满足质检的实时性要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 改进 yolov5 表面 微小 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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