[发明专利]一种基于GaN器件的低电阻欧姆接触器件与制备在审

专利信息
申请号: 202310254994.9 申请日: 2023-03-16
公开(公告)号: CN116387353A 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 李国强;李善杰;王文樑 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L29/45 分类号: H01L29/45;H01L29/40;H01L29/66;H01L29/872;H01L29/778
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 蔡克永
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于GaN器件的低电阻欧姆接触器件与制备;主要通过离子注入与2DEG连接并激活从而降低欧姆接触电阻,引入离子注入控制层,精确控制离子注入的区域,引入SiN/AlN保护层保护外延结构在高温下的稳定性;其组成包括依次层叠设置的GaN外延结构、离子注入控制层、AlN层、SiN层及欧姆接触合金;所述GaN外延结构需包含AlGaN/GaN异质结构,离子注入区域为欧姆接触下方区域;离子注入控制层在离子注入后去除。本发明制备的基于GaN器件的低电阻欧姆接触具有接触电阻率低、工艺简单、材料损伤小、欧姆接触形貌佳等优势,可有效提升GaN二极管、GaN HEMT器件、GaN MOSFET等器件的性能,适合进行大规模推广应用。
搜索关键词: 一种 基于 gan 器件 电阻 欧姆 接触 制备
【主权项】:
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