[发明专利]一种基于改进的YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测方法在审
| 申请号： | 202310258991.2 | 申请日： | 2023-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN116258707A | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | 高威;牛杰;姚海鹏;辛港 | 申请（专利权）人： | 常州京信新一代信息技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/82;G06N3/08;G06V10/762;G06N3/0464 |
| 代理公司： | 南京中高专利代理有限公司 32333 | 代理人： | 金啸 |
| 地址： | 213000 江苏省常州市武进区常武中*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及PCB表面缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于改进的YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测方法，本方法包括：获取包含表面缺陷的PCB图像数据集，并进行图像预处理得到PCB表面缺陷样本数据集；构建改进型YOLOv5网络架构，并得到改进的YOLOv5算法模型；用PCB表面缺陷样本数据集对改进的YOLOv5算法模型进行训练，得到训练好的改进的YOLOv5算法模型，即PCB表面缺陷检测模型；将待检测的PCB图像经图像预处理后输入PCB表面缺陷检测模型，输出该PCB图像中的缺陷位置及其对应的缺陷类别。本基于改进的YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测方法可以提升对于PCB表面的小尺寸缺陷和器件密集分布处的缺陷的检测性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 改进 yolov5 算法 pcb 表面 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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