[发明专利]环形栅SiC MOSFET功率器件及制作方法有效

专利信息
申请号: 202310266260.2 申请日: 2023-03-20
公开(公告)号: CN115985956B 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 罗寅;谭在超;丁国华 申请(专利权)人: 苏州锴威特半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/417;H01L29/16;H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 葛莉华
地址: 215600 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种环形栅SiC MOSFET功率器件及制作方法,涉及半导体技术领域,包括漏极金属层、SiC衬底、漂移层、在漂移层上开设的两个环形阱区,两个源区分别设置于环形阱区内部;内阱区内部的为MOSFET功率器件的第一源区,外阱区内部的为MOSFET功率器件的第二源区;第一源区和第二源区上方设置有源极金属区;栅极设置于内阱区和外阱区上方的源极金属区之间;内阱区与第一源区形成第一PN结,外阱区与第二源区形成第二PN结。该器件形成的导电沟道为围绕栅极的结构,所以纵向电流分布为环形,避免了电流集中,降低了器件内部的电流密度,改善内部的电流分布情况,降低器件内部电流集中,降低器件导通电阻。
搜索关键词: 环形 sic mosfet 功率 器件 制作方法
【主权项】:
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