[发明专利]涂层厚度无损检测方法、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310273486.5 | 申请日： | 2023-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN116242261A | 公开（公告）日： | 2023-06-09 |
| 发明（设计）人： | 谭亮;刘汉平;徐山;梅延滨;高世文;杨力强;邹佰文 | 申请（专利权）人： | 中国铁建重工集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 赵丹;刘芳 |
| 地址： | 410199 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本申请提供一种涂层厚度无损检测方法、设备及存储介质，涉及厚度检测技术领域。该方法包括：在激光设备向待测试件的湿膜表面垂直打入激光后，获取探测设备监测获取到的多个激光反射波；根据每个激光反射波的波形特征信息、噪声影响度和其他声波混叠程度，从多个激光反射波中获取时间上相邻的第一底面回波对应的第一时间和第二底面回波对应的第二时间；确定待测试件的介质类型，并查询预配置的介质类型和涂层声速的映射关系，获取与介质类型匹配的涂层声速；根据第一时间、第二时间以及涂层声速，得到待测试件对应的涂层厚度。本申请的方法，筛选并利用底面回波确定反射波对应的准确回波时长，进而精准确认当前湿膜对应的涂层厚度。 | ||
| 搜索关键词： | 涂层 厚度 无损 检测 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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