[发明专利]一种小天体激励采样及气吹送样真空实验验证系统在审

专利信息
申请号: 202310311590.9 申请日: 2023-03-28
公开(公告)号: CN116772916A 公开(公告)日: 2023-09-19
发明(设计)人: 孔旭;高翔宇;王晓光;林云成;满剑锋;杨旭;张熇;曾福明;许映乔 申请(专利权)人: 北京空间飞行器总体设计部
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G01P5/00
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 田卫平
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种小天体激励采样及气吹送样真空实验验证系统,将PIV流速测量系统设置在送样管道待测管段外部,通过测量送样管道内示踪粒子的流速进行流场特性实验验证;将高速摄影系统设置在送样管道待测管段外部,通过测量模拟星壤颗粒的流速进行颗粒物特性实验验证;信号采集系统用于同步测量送样管道待测管段所有测点的气体压强及实时监测真空舱内真空度;控制系统用于控制各系统工作时序。本发明能够进行地面重力真空环境下的气体激励采样与气吹送样验证,并测量出流场的流速与分布情况。
搜索关键词: 一种 天体 激励 采样 吹送 真空 实验 验证 系统
【主权项】:
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