[发明专利]一种屏蔽栅沟槽MOSFET在审

专利信息
申请号: 202310322007.4 申请日: 2023-03-29
公开(公告)号: CN116093163A 公开(公告)日: 2023-05-09
发明(设计)人: 王卓;胡鲲;乔明;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/10;H01L29/423
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 敖欢
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种屏蔽栅沟槽MOSFET,包括从下到上依次设置N型重掺杂衬底、N型轻掺杂外延漂移层、P型扩散区、N型重掺杂扩散区、在垂直方向构建深槽、浅槽,深槽内构建屏蔽栅多晶硅与控制栅多晶硅,分别用隔离场氧与栅氧与沟槽边缘隔离,浅槽内构建控制栅多晶硅,用栅氧与沟槽边缘隔离,器件构建金属电极隔离氧,贯穿隔离氧、N型轻掺杂扩散区、P型扩散区构建梯形金属电极、金属电极与P型扩散区之间形成P型高掺杂区、器件顶部形成源极、器件底部形成漏极。本发明充分利用浅槽的抗翘曲能力大于深槽的原理,将控制器件开关的浅槽与形成电荷平衡的深槽垂直分布,相对于深槽垂直深槽分布,提高器件整体的抗翘曲能力。
搜索关键词: 一种 屏蔽 沟槽 mosfet
【主权项】:
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