[发明专利]基于加速退化试验的电流传感器寿命预测方法、系统及介质在审
| 申请号： | 202310341549.6 | 申请日： | 2023-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN116381585A | 公开（公告）日： | 2023-07-04 |
| 发明（设计）人： | 周峰;李文婷;龙兆芝;刁赢龙;殷小东;刘少波;雷民;范佳威;胡康敏;李永福;杨宁;刘毅;杨春燕;李明;涂琛;宗贤伟;陈亮;余也凤 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院有限公司;国家高电压计量站;国网重庆市电力公司电力科学研究院;华中科技大学;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 刘海蓉 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于加速退化试验的电流传感器寿命预测方法，并公开了具有基于加速退化试验的电流传感器寿命预测方法的系统和存储介质，其中基于加速退化试验的电流传感器寿命预测方法通过定义不同应力下加速因子的通用表达式，且在相关性的基础上引入耦合项，使得最终的拟合表达式更加合理和准确，老化规律更贴合实际，同时填补了磁场干扰的老化加速模型尚无研究的空白。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 加速 退化 试验 电流传感器 寿命 预测 方法 系统 介质 | ||
【主权项】：
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