[发明专利]一种平板二维磁特性自动化测试装置在审
| 申请号： | 202310360847.X | 申请日： | 2023-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN116466275A | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 徐学平;周伟勇;孙津济;韩邦成 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学;北京航空航天大学杭州创新研究院 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01R33/04;G01R33/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 江亚平;顾炜 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种平板二维磁特性自动化测试装置，其具体包括导磁激励模块、高精度测量模块、二自由度自动控制系统及支撑定位模块。其中导磁激励模包括磁轭和激励线圈，通过磁轭构成相互垂直的磁通回路以保证测试信号强度，通过激励线圈完成测试磁场的激励给定。高精度测量模块由磁场强度线圈及磁感应强度探针构成，利用磁场强度线圈及磁感应强度探针对分别获取相互垂直方向的磁场强度及磁感应强度数据。二自由度自动控制系统通过电机驱动实现测量模块在水平面任意测试点的精准定位与自动测。支撑定位模块可保证部件之间的安装位置，并可作为测试样件的定位基准。本发明结构紧凑，操控便捷，适用性广，测试效果较好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平板 二维 特性 自动化 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学;北京航空航天大学杭州创新研究院，未经北京航空航天大学;北京航空航天大学杭州创新研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310360847.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
