[发明专利]芯片测试过程中的OTP存储单元检测方法及装置在审
| 申请号： | 202310373154.4 | 申请日： | 2023-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN116682478A | 公开（公告）日： | 2023-09-01 |
| 发明（设计）人： | 汪锡 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 李建忠 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开提供了一种芯片测试过程中的一次可编程OTP存储单元检测方法及设备，涉及半导体技术领域。所述方法包括：获取半导体芯片经过第一测试站点测试之后的第一记录文件；根据第一记录文件获得第一OTP单元状态结果记录数据；获取半导体芯片经过第二测试站点测试之后的第二记录文件；根据第二记录文件获得第二OTP单元状态结果记录数据；根据第一OTP单元状态结果记录数据和第二OTP单元状态结果记录数据获得半导体芯片的跨站点OTP单元状态检测结果。本公开通过第一OTP单元状态结果记录数据和第二OTP单元状态结果记录数据检测出信息异常的OTP单元，从而保证半导体芯片的良率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 过程 中的 otp 存储 单元 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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