[发明专利]一种基于自动化的激光芯片检测设备及其检测方法在审

专利信息
申请号: 202310381994.5 申请日: 2023-04-11
公开(公告)号: CN116337876A 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 李玉廷;刘崇军;李恒飞;陈远来 申请(专利权)人: 互喜光电科技(浙江)有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/01
代理公司: 北京和联顺知识产权代理有限公司 11621 代理人: 谭鹏敏
地址: 314211 浙江省嘉兴市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开一种基于自动化的激光芯片检测设备及其检测方法,涉及芯片检测装置技术领域,包括设备主体,设备主体内设有第一电动滑台、第二电动滑台、第三电动滑台,第三电动滑台上安装有滑块,滑块的一侧固定设有用于安装激光件的安装板,检测方法为控制托块移出设备后,集中装载芯片上料;移动杆向上移动通过圆杆带动齿条平移,驱动齿轮转动L形板,密封板关闭进料横槽;利用插块对托块固定,稳固芯片;通过在X、Y、Z方向移动测试座,调节移动激光对芯片全面缺陷测试。本发明激光芯片检测设备,其中利用可自由移动的激光对若干个芯片进行自动全面缺陷检测,提高了芯片检测的精度和效率,高自动化,检测方法降低了检测过程中芯片的检测误差。
搜索关键词: 一种 基于 自动化 激光 芯片 检测 设备 及其 方法
【主权项】:
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