[发明专利]基于纳秒窄线宽激光探测的激光烧蚀吸收光谱测量装置

摘要

本发明涉及同位素比测量技术领域，特别涉及一种基于纳秒窄线宽激光探测的激光烧蚀吸收光谱测量装置与方法，该装置包括电控位移台，以及与所述电控位移台相连的烧蚀单元和探测单元；所述电控位移台用于放置靶样品；所述烧蚀单元用于采用飞秒激光通过冷烧蚀的方式烧蚀待测靶样品，以形成比纳秒激光烧蚀的等离子体羽流更低的等离子体羽流温度；所述探测单元用于采用纳秒窄线宽可调谐激光作为探测光，对等离子体进行瞬态探测。具有探测灵敏度高、测量准确性好、适用于多种同位素及同一元素多种激发谱线的吸收光谱测量的优点。