[发明专利]接口测试中的错误信息归因方法、装置、及存储介质在审
| 申请号： | 202310403352.0 | 申请日： | 2023-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN116450514A | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 张磊;汪丽梅 | 申请（专利权）人： | 北京淘友天下技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 王凯 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请实施例提供了一种接口测试中的错误归因方法、装置、电子设备及存储介质，涉及计算机技术领域。该方法包括：接收用户针对目标接口输入的至少一个测试用例；对于每一测试用例，执行测试用例中的至少一个预设步骤，若任一预设步骤发生测试错误，则获取对应的错误信息；根据任一预设步骤确定对应的预设错误因素库，并根据预设错误因素库和错误信息获取错误因素。本申请的方案使机器终端获取到的预设步骤的错误信息后，根据错误信息和预设错误因素库可直接确定出对应的错误因素，减少了人工分析的过程，提高了整个测试流程的效率，降低了成本。同时采用终端机器获取错误因素，使获取错误因素的标准较为统一，进而使得最终分析错误因素更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 接口 测试 中的 错误信息 归因 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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