[发明专利]基于光克尔效应的超短脉冲同步测试装置与方法在审
| 申请号： | 202310438504.0 | 申请日： | 2023-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN116358716A | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 范薇;张天宇;徐英明;汪小超;刘诚;孙明营;朱健强;张生佳 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00;G01J4/00;G01J9/00 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种基于光克尔效应的超短脉冲同步测试装置与方法。多束待同步的高功率密度超短脉冲经过光克尔介质后会发生感应双折射效应，该效应会瞬时改变参考光束的偏振特性，通过参考信号脉冲的振幅或者相位变化来测量多束超短脉冲之间的同步。该方法可以实现大角度的超短脉冲在靶点处的同步测量，具有测量精度高，可重复性好，稳定度高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 克尔 效应 超短 脉冲 同步 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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