[发明专利]一种双极性多级DMA、粒径谱测量装置及粒径谱测量方法在审
| 申请号： | 202310457540.1 | 申请日： | 2023-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN116698681A | 公开（公告）日： | 2023-09-05 |
| 发明（设计）人： | 余同柱;康士鹏;杨义新;吉喆;桂华侨;王计广;陈大仁;刘建国 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人： | 奚华保 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种双极性多级DMA、粒径谱测量装置及粒径谱测量方法。该DMA包括依次设置的入口阶、筛分阶和出口阶；入口阶包括鞘气入口混匀腔和设置在鞘气入口混匀腔中的层流器；筛分阶包括与所述鞘气入口混匀腔相连的筛分腔体以及安装于筛分腔体中的喷嘴；出口阶包括与筛分腔体相连的鞘气出口混匀腔和安装于鞘气出口混匀腔中的混匀器。本发明所述的双极性多级DMA，能够同时筛分出多组双极性的单分散颗粒物，即同时筛分出带正电和带负电的颗粒物，获取测量数浓度并且求和，从而降低单极性荷电概率变化带来的测量误差，提高粒径谱测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 极性 多级 dma 粒径 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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