[发明专利]一种针对弱测量系统的光斑中心定位方法在审

专利信息
申请号: 202310465894.0 申请日: 2023-04-26
公开(公告)号: CN116499360A 公开(公告)日: 2023-07-28
发明(设计)人: 文超;吴鹏;吴昊 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G06T7/66;G06N3/0455;G06N3/0464;G06N3/08
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 王海军
地址: 400065 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明设计一种针对弱测量系统的光斑中心定位方法,包括:根据所述弱测量系统的成像原理生成光斑强度分布物理模型;根据CCD采集的实测光斑图像采用最小二乘法对光斑强度分布物理模型进行拟合,得到光斑强度分布模型对应的参数;根据光斑强度分布模型对应的参数随机生成N个光斑图像作为理想光斑图像;根据CCD采集的实测光斑图像和N个理想光斑图像利用小波分析技术生成N个模拟光斑图像;将N个模拟光斑图像作为训练集,将每个模拟光斑图像对应的理想光斑图像作为标签对卷积自编码神经网络进行训练;将CCD采集的目标实测光斑图像输入训练好的卷积自编码神经网络生成对应的目标理想光斑图像,对目标实测光斑图像的中心进行定位。
搜索关键词: 一种 针对 测量 系统 光斑 中心 定位 方法
【主权项】:
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