[发明专利]TDICMOS的调制传递函数测试方法在审
| 申请号： | 202310473825.4 | 申请日： | 2023-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN116456076A | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 余达;吕恒毅;张宇;赵宇宸;张择书;毕国玲;聂婷 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人： | 朱红玲 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | TDICMOS的调制传递函数测试方法，涉及TDICMOS测试技术领域，解决现有TDICMOS探测器的调制传递函数测试中，难以识别判读有用的图像数据的问题，本发明先采用面阵工作模式进行探测器与目标相对姿态位置的调整，然后再切换到线阵工作模式。TDICMOS探测器的栅转移控制信号在电荷转移阶段正常输出，而在曝光阶段禁止输出；数据有效信号在有栅转移控制信号时输出周期性的高低电平信号，否则为恒定的电平。全色和多光谱的电荷转移级数设置为可用的最大级数，循环帧周期长度为整数倍关系。保证全色和多光谱图像同步传输，接收到的各帧图像中全色和多光谱图像都是相对稳定的。 | ||
| 搜索关键词： | tdicmos 调制 传递函数 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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