[发明专利]一种量化测试芯片工作噪声的方法、装置、介质和设备在审
| 申请号： | 202310486956.6 | 申请日： | 2023-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN116184053A | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 赖俊生;刘文武;慕光 | 申请（专利权）人： | 皇虎测试科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 | 代理人： | 陈秋霞 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种量化测试芯片工作噪声的方法、装置、介质和设备，包括对被测芯片进行应用级操作，将应用级操作作为测试矢量，利用持续的测试矢量使得被测芯片产生耗电量波动；利用测试仪对被测芯片进行持续的耗电量采集，根据采集的耗电量信息计算被测芯片的工作噪声，工作噪声包括供电与接地噪声。本发明通过数学计算来量化被测芯片的工作噪声，通过工作噪声来对被测芯片的耗电量波动进行数值化表达，以便后续将工作噪声作为测试指标对被测芯片的电学性能进行评估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 量化 测试 芯片 工作 噪声 方法 装置 介质 设备 | ||
【主权项】：
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