[发明专利]一种测量等离子体4.6GHz低杂波局域频谱的系统在审

专利信息
申请号: 202310517008.4 申请日: 2023-05-09
公开(公告)号: CN116449100A 公开(公告)日: 2023-07-18
发明(设计)人: 李妙辉;吴则革;王茂;丁伯江 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01R23/165 分类号: G01R23/165;G01R21/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明
地址: 230031 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种测量等离子体4.6GHz低杂波局域频谱的系统,用来测量刮削层中局域的低杂波功率和频谱展宽信息。微波源产生的30GHz微波通过喇叭天线以寻常模发射进入托卡马克等离子体中,在刮削层某一个位置与4.6GHz低杂波发生背散射,从而产生一支新微波,其频率为34.6GHz。第二个喇叭天线用来接收这支因背散射产生的34.6GHz微波,然后通过混频器差频后其频率降为3.5GHz,接着再与4.6GHz本振二次差频后降为1.1GHz,信号最终接入频谱分析仪。与以往的铜环天线测量的频谱不同,本系统测量结果可以反映局域的低杂波功率和频谱信息,从而能更准确分析低杂波在刮削层发生的寄生效应。
搜索关键词: 一种 测量 等离子体 4.6 ghz 低杂波 局域 频谱 系统
【主权项】:
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