[发明专利]一种芯片的测试模式控制电路及控制方法有效
| 申请号： | 202310540268.3 | 申请日： | 2023-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN116256622B | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 苏州贝克微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 陈刚 |
| 地址： | 215000 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请包括一种芯片的测试模式控制电路及控制方法，具体涉及芯片测试技术领域。在控制电路中，芯片使能端通过第一齐纳二极管、第一电阻、第一开关管连接至第一节点；芯片使能端还通过第一齐纳二极管、第一电阻、第二齐纳二极管连接至电源电压端；电源电压端还连接至第一开关管的控制端；第一节点分别通过第二电阻以及第三齐纳二极管接地；第一节点还通过施密特触发器以及第一反相器连接至控制电路中的模式选择电路。上述电路结构可以大大降低测试模式控制电路中开关管所需的耐压值，从而可采用普通型MOS管或者普通型三极管，降低测试模式控制电路的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 模式 控制电路 控制 方法 | ||
【主权项】：
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