[发明专利]一种组合电气开关绝缘材料无损检测的中子稀疏层析方法在审
| 申请号： | 202310548773.2 | 申请日： | 2023-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN116542951A | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 杨晓;杨明翰;陈帅;张子恒;汪建业 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T11/00;G06N3/0455;G06N3/082 |
| 代理公司： | 西安研实知识产权代理事务所(普通合伙) 61300 | 代理人： | 罗磊 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请涉及无损检测领域，具体提供了一种组合电气开关绝缘材料无损检测的中子稀疏层析方法，该方法包括如下步骤：S1，通过预设神经网络模型得到稀疏投影方案；S2，根据稀疏投影方案对待测组合电气开关进行稀疏投影；S3，根据投影数据重建待测组合电气开关的图像；S4，通过重建的图像确定待测组合电气开关的损坏情况。本发明方法通过中子稀疏投影得到投影数据进行图像重建。通过直接检测固体绝缘材料的高精度图像得到缺陷的位置、损坏程度、损坏类型等，而不是通过间接的局部放电进行检测，不需要一段时间的缺陷积累；因此，在缺陷形成的初期，缺陷能够被快速、准确地检测到，从而尽早排除隐患，提高了电力系统的整体可靠性以及降低运维成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 组合 电气 开关 绝缘材料 无损 检测 中子 稀疏 层析 方法 | ||
【主权项】：
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