[发明专利]一种超声回波相位一阶导数谱测定涂层界面刚度的方法在审
| 申请号： | 202310549880.7 | 申请日： | 2023-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN116642946A | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 马志远;林莉;齐天之 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01N29/46;G01N29/44 |
| 代理公司： | 大连星海专利事务所有限公司 21208 | 代理人： | 郭海英 |
| 地址： | 116024 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： |
一种超声回波相位一阶导数谱测定涂层界面刚度的方法，其属于超声无损检测技术领域。该方法通过超声波垂直入射至涂层试样进行检测，采集了耦合介质/涂层和涂层/基体界面的混叠回波 |
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| 搜索关键词： | 一种 超声 回波 相位 一阶 导数 测定 涂层 界面 刚度 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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