[发明专利]一种面向I/O并发度的数据库性能问题检测方法有效

专利信息
申请号: 202310557706.7 申请日: 2023-05-16
公开(公告)号: CN116561002B 公开(公告)日: 2023-10-10
发明(设计)人: 李姗姗;陈振邦;何浩辰;陈立前;董威;王戟;贾周阳;马俊;彭沐春;黄响兵;李小玲 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 湖南企企卫知识产权代理有限公司 43257 代理人: 任合明
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种面向I/O并发度的数据库性能问题检测方法,目的是有效检测数据库与硬件设备的性能不适配问题。技术方案为:构建由I/O系统调用识别模块、I/O配置项识别模块、测试样例生成模块、不适配检测模块构成的性能不适配检测系统;I/O系统调用识别模块对I/O相关系统调用合并并删除重复元素,得到I/O相关系统调用集合;I/O配置项识别模块采用污点分析方法筛选出待测软件中I/O相关的配置项;测试样例生成模块生成测试样例;不适配检测模块执行测试样例、收集运行时信息,判断是否存在不适配现象。采用本发明能有效检测数据库软件和硬件设备之间的性能不适配问题。
搜索关键词: 一种 面向 并发 数据库 性能 问题 检测 方法
【主权项】:
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