[发明专利]一种评估值被带偏的检测方法、装置、电子设备及介质有效

专利信息
申请号: 202310566070.2 申请日: 2023-05-19
公开(公告)号: CN116302848B 公开(公告)日: 2023-09-01
发明(设计)人: 何家俊;俞文翰;潘凡;徐楠;蔡一彪;孙丰诚;倪军 申请(专利权)人: 杭州安脉盛智能技术有限公司
主分类号: G06F11/30 分类号: G06F11/30;G01D21/02;G01D18/00;G06F17/16
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李金
地址: 310052 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请公开了一种评估值被带偏的检测方法、装置、电子设备及介质。应于工业检测领域。本申请首先获取待检测设备的若干检测点上的传感器采集到的真实值;通过各检测点对应的各预设评估模型获取各检测点分别对应的评估值;对真实值和评估值进行趋势分析,以得到对应检测点的真实值趋势向量和评估值趋势向量;根据目标检测点的相关性数值以及目标检测点与其余检测点之间的相关性数值关系,判断目标检测点的评估值是否被带偏,相关性数值为根据检测点跟其余检测点的真实值趋势向量和评估值趋势向量的关系得到。本申请可以检测工业现场设备检测点的数值是否被带偏,并给出检测结果,从而提高状态评估模型系统完整性,节省人力成本。
搜索关键词: 一种 评估 值被带偏 检测 方法 装置 电子设备 介质
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州安脉盛智能技术有限公司,未经杭州安脉盛智能技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310566070.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top