[发明专利]一种平板孔型像质计的制备方法在审
申请号: | 202310568808.9 | 申请日: | 2020-03-19 |
公开(公告)号: | CN116678902A | 公开(公告)日: | 2023-09-01 |
发明(设计)人: | 陈小君;陈能;王文荣;肖燕萍;谢胜芬;刘珍珍;吴紫君;蔡金兰 | 申请(专利权)人: | 广东省医疗器械质量监督检验所 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N1/28 |
代理公司: | 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 | 代理人: | 刘俊 |
地址: | 510000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明涉及医疗器械领域,尤其涉及一种平板孔型像质计的制备方法,所述制备方法包括以下步骤:S1、镶嵌处理:对金属体进行镶嵌处理;S2、切割处理:对镶嵌处理后的金属体进行切割处理,得到厚度值为125μm的金属厚度片,其厚度值公差范围为0~15μm;S3、打孔处理:采用打孔工具在厚度片上钻取两个大小相同的孔,得到孔径为125μm的平板孔型像质计,其孔径公差范围为0~15μm;S4、封装处理:将平板孔型像质计封装固定在对X射线弱吸收的材料中。本发明提供一种平板孔型像质计的制备方法,符合射线照相检测中对像质计的要求,工艺简单易实现,生产高效且成本低。 | ||
搜索关键词: | 一种 平板 孔型 像质计 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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