[发明专利]选择性同步测定沉积物中As(III)、Cr(III)和Sb(III)的二维高分辨方法在审
| 申请号： | 202310581486.1 | 申请日： | 2023-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN116626178A | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 王燕;杭小帅;张澜;周莉;朱冬冬;尤晓慧;肖静;陈翔 | 申请（专利权）人： | 生态环境部南京环境科学研究所 |
| 主分类号： | G01N30/00 | 分类号： | G01N30/00;G01N27/626 |
| 代理公司： | 安徽智鼎华诚专利代理事务所(普通合伙) 34242 | 代理人： | 王婷 |
| 地址： | 210042 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了选择性同步测定沉积物中As(III)、Cr(III)和Sb(III)的二维高分辨方法，可以选择性地吸附As(III)、Cr(III)和Sb(III)，将该技术与激光剥蚀等离子体质谱法(LA‑ICP‑MS)相结合，可以在亚毫米尺度上对As(III)、Cr(III)和Sb(III)进行同步二维成像。本发明涉及环境监测技术领域。该选择性同步测定沉积物中As(III)、Cr(III)和Sb(III)的二维高分辨方法，本发明通过对HR‑MPTS固定膜的吸附率、提取率以及吸附动力学进行测试，探究固定膜能否满足DGT测定要求，同时对DGT的性能包括吸附容量、扩散系数、环境条件影响、最低检出限等进行研究，验证DGT测定结果的可靠性和有效性。本发明建立了As(III)、Cr(III)和Sb(III)在固定膜上的累积量与标准化激光剥蚀信号值的校正曲线，并在沉积物中进行了应用。 | ||
| 搜索关键词： | 选择性 同步 测定 沉积物 as iii cr sb 二维 分辨 方法 | ||
【主权项】：
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