[发明专利]一种芯片验证平台和方法、电子设备、存储介质在审
| 申请号： | 202310614702.8 | 申请日： | 2023-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN116560931A | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 霍静 | 申请（专利权）人： | 广州全盛威信息技术有限公司;北京奕斯伟计算技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 董亚莉;蒋雅洁 |
| 地址： | 510663 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种芯片验证平台和方法、电子设备、存储介质。芯片验证平台包括：至少一个验证环境，用于对待验证芯片包括的至少一个功能块进行验证，得到至少一个块验证结果；至少一个验证环境与至少一个功能块一一对应；不同的功能块在待验证芯片中的架构信息和业务信息不同；处理器验证模块，用于对待验证芯片的处理器进行验证，得到处理器验证结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 平台 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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