[发明专利]芯片时钟网络延时交叉验证测试方法有效

专利信息
申请号: 202310664603.0 申请日: 2023-06-07
公开(公告)号: CN116400205B 公开(公告)日: 2023-09-19
发明(设计)人: 夏显召;翟瑞卿;李予佳;李明阳;赵瑞;吴含冰;戎辉;董长青;姜国凯 申请(专利权)人: 中国汽车技术研究中心有限公司;中汽研软件测评(天津)有限公司
主分类号: G01R31/3183 分类号: G01R31/3183;G01R31/317;G06F11/22;G06F1/04;G06F11/263
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300300 *** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种芯片时钟网络延时交叉验证测试方法,涉及芯片测试技术领域,通过将测试向量输入至N颗同批次、同型号的待测芯片;控制OCC电路At‑speed模式提供的时钟信号作为待测芯片内各触发器的控制时钟;将来自各待测芯片的触发器输出信号进行异或运算,实现批量交叉验证。
搜索关键词: 芯片 时钟 网络 延时 交叉 验证 测试 方法
【主权项】:
暂无信息
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