[发明专利]存储芯片的测试方法及装置在审
| 申请号： | 202310665051.5 | 申请日： | 2023-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN116758970A | 公开（公告）日： | 2023-09-15 |
| 发明（设计）人： | 马雅莉 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11594 | 代理人： | 韩艺珠 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开提出一种存储芯片的测试方法及装置，适用于存储技术领域，可以解决，能够解决人工方式生成随机测试向量难以保证随机性和覆盖率，且容易发生错误的问题，可以提高存储芯片的测试效率。该方案包括：根据存储芯片的标准状态机，获取存储芯片的简化状态机，简化状态机用于描述存储芯片的主要功能；确定简化状态机中的状态跳转的重要性的指示信息；基于简化状态机的状态跳转的重要性的指示信息，生成存储芯片的测试向量。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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