[发明专利]高密度SiP封装结构及封装方法在审
申请号: | 202310669323.9 | 申请日: | 2023-06-07 |
公开(公告)号: | CN116487342A | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 陈一杲;苏玉燕;汤勇;陈诚;曹志诚;倪萍 | 申请(专利权)人: | 天芯电子科技(南京)有限公司 |
主分类号: | H01L23/367 | 分类号: | H01L23/367;H01L23/24;H01L21/60;H01L21/50 |
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地址: | 210000 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种高密度SiP封装结构及封装方法。高密度SiP封装结构包括基板、外壳、封装盖板、倒装芯片组、键合互连芯片组及元器件,其中:基板设有第一界面层和第二界面层;第二界面层与第一热沉固定连接;倒装芯片组包括第一焊球阵列层,TSV转接板,第二焊球阵列层,第一芯片,第一导热胶层,第二热沉。通过设置在第一芯片之上的第一导热胶层、第二热沉连接至封装盖板使得倒装芯片组向封装盖板方向散热,通过在基板的第二界面上设置第一热沉,为倒装芯片组、键合互连芯片组和元器件提供散热,双向散热通道可以有效降低高密度SiP封装结构热量。 | ||
搜索关键词: | 高密度 sip 封装 结构 方法 | ||
【主权项】:
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