[发明专利]一种用于SAR ADC中split开关时序的电容失配自校准方法在审

专利信息
申请号: 202310671704.0 申请日: 2023-06-07
公开(公告)号: CN116938240A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 沈易;刘隆仁;李昂扬;丁瑞雪;刘术彬;朱樟明 申请(专利权)人: 西安电子科技大学重庆集成电路创新研究院
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10;H03M1/46
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 王丹
地址: 401331 重庆市沙坪*** 国省代码: 重庆;50
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种用于SAR ADC中split开关时序的电容失配自校准方法,包括:设定校准起始位;在校准采样阶段:将待校准电容CL(q+1)p的下极板由电源电压切换至接地端,待校准电容CL(q+1)ns的下极板由接地端切换至电源电压,并获取电容上极板的电压变化量;校准量化阶段:由最低位电容到第q位电容组成的校准子DAC进行量化得到数字码,并根据数字码得到当前待校准电容的校准值;依次校准第二电容阵列和第四电容阵列中的电容,当第二电容阵列和第四电容阵列中的电容均校准完后,计算实际级间增益并根据实际级间增益校准第一电容阵列和第三电容阵列中的电容;计算并存储级间增益误差和校准系数。
搜索关键词: 一种 用于 sar adc split 开关 时序 电容 失配 校准 方法
【主权项】:
暂无信息
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