[发明专利]用于检测工艺数据质量的方法、装置、存储介质及处理器在审

专利信息
申请号: 202310671706.X 申请日: 2023-06-07
公开(公告)号: CN116880368A 公开(公告)日: 2023-10-13
发明(设计)人: 陈广华;韩晶;汪海滨;刘涛;刘丹 申请(专利权)人: 中科云谷科技有限公司
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 陈姝婧
地址: 201306 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请实施例提供一种用于检测工艺数据质量的方法、装置、存储介质及处理器。方法包括:获取待检测产品的产品物料集;根据接收的待检测产品的第一检测指令从产品物料集中确定多个目标配件;从每个目标配件的目标工艺集中查找每个目标配件的目标工艺信息;根据全部目标配件的目标工艺信息确定工艺信息的第一完整程度;根据接收的待检测产品的第二检测指令确定每个配件的消耗检测结果;根据接收的待检测产品的第三检测指令选取工艺产线并确定工艺产线包括的工艺工位;根据工艺工位的工位信息确定产线信息的第二完整程度;根据第一完整程度、全部配件的消耗检测结果及第二完整程度确定待检测产品的工艺数据质量,以提高检测效率及准确性。
搜索关键词: 用于 检测 工艺 数据 质量 方法 装置 存储 介质 处理器
【主权项】:
暂无信息
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