[发明专利]光储充一体机调试方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202310675472.6 | 申请日： | 2023-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN116932380A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 张静 | 申请（专利权）人： | 上海思格源智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;H04L67/12;H04L67/141;H04L69/22;H04L69/00 |
| 代理公司： | 上海汉之律师事务所 31378 | 代理人： | 冯华 |
| 地址： | 201304 上海市浦东新区中国（上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供一种光储充一体机调试方法、装置、设备及介质，适用于调试设备，该调试方法包括：对光储充一体机内的芯片配置通信接口，芯片为单核芯片或多核芯片；根据芯片配置的通信接口与调试设备之间建立通信链路；向芯片发送调试指令，响应于调试指令加载调试程序，以使光储充一体机执行与调试指令相匹配的业务，生成调试结果；将调试结果实时同步于调试设备，并予以显示，本申请无需使用jlink仿真器进行在线仿真，也能够实时获取芯片内部信息，实时掌控芯片动态；另一方面，摒弃了jlink仿真器进行仿真，降低了调试设备的使用条件与使用成本，也不局限于使用环境和硬件状态，还提高了调试设备的通用性。 | ||
| 搜索关键词： | 光储充 一体机 调试 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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