[发明专利]一种基于缩比映射的雷达散射截面测算方法、装置及介质在审
申请号: | 202310686224.1 | 申请日: | 2023-06-12 |
公开(公告)号: | CN116719001A | 公开(公告)日: | 2023-09-08 |
发明(设计)人: | 吴护林;邓贤明;张天才;洪韬;李忠盛;赵京城;朱凡;周堃;张翼翔;陈知华;徐塱;代欣位;汪家辉;王森;吴非;刘朋浩;高浩然 | 申请(专利权)人: | 中国兵器装备集团西南技术工程研究所;北京航空航天大学 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 重庆市嘉允启行专利代理事务所(普通合伙) 50243 | 代理人: | 胡柯 |
地址: | 401329 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: |
本发明涉及雷达技术领域,特别涉及一种基于缩比映射的雷达散射截面测算方法、装置及介质。具体方法为确认雷达探测到的原型目标的类别信息;根据所述原型目标类别调取原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型;根据原型目标对应的缩比目标雷达散射截面和原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型,计算原型目标雷达散射截面σ |
||
搜索关键词: | 一种 基于 映射 雷达 散射 截面 测算 方法 装置 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国兵器装备集团西南技术工程研究所;北京航空航天大学,未经中国兵器装备集团西南技术工程研究所;北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310686224.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。