[发明专利]一种编码器芯片偏位响应测试系统在审
| 申请号： | 202310696943.1 | 申请日： | 2023-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN116734908A | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 王晓曦;张义荣;高朕 | 申请（专利权）人： | 传周半导体科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 上海谱璟专利代理事务所(普通合伙) 31422 | 代理人： | 沈敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种编码器芯片偏位响应测试系统，包括：测试机台，测试机台包括固定工装和偏位发生装置，固定工装上设置有测试电机、测试光源和码盘；码盘与测试电机的旋转轴连接；码盘上设置有透光孔；偏位发生装置上设置有编码器芯片，偏位发生装置包括水平位移台、俯仰位移台和旋转位移台；测试光源的光线穿过透光孔时照射到编码器芯片；测试电路，测试电路包括供电电源和示波器；示波器连接编码器芯片显示响应波形；偏位检测设备，用于检测编码器芯片的偏位数值，包括检测水平位移的双路干涉仪、检测旋转位移的光流传感器和检测俯仰位移的畸变检测相机。本发明提供的编码器芯片偏位响应测试系统，通过使用偏位检测设备，提高了测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 编码器 芯片 响应 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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