[发明专利]ECG自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 202310762856.1 | 申请日： | 2023-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN116774561A | 公开（公告）日： | 2023-09-19 |
| 发明（设计）人： | 陈龙 | 申请（专利权）人： | 立讯智造（浙江）有限公司 |
| 主分类号： | G04D7/00 | 分类号： | G04D7/00 |
| 代理公司： | 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481 | 代理人： | 蒋学超 |
| 地址： | 314117 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请涉及一种ECG自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，所述方法包括步骤：若触发测试指令，则获取所述测试指令对应的待测设备的取样位置；根据所述取样位置确定各测试模块对应的预计测试耗时；将所述预计测试耗时最少的所述测试模块作为第一目标测试模块；所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试操作。通过测试指令的触发来确定待测设备的测试需要，并预计测试耗时最少的测试模块作为待测设备的测试模块，使得单个待测设备的测试时间最短，提高了检测效率，同时，实现了待测设备的自动化测试，避免了人工方式导致的生产效率低下，测试质量不佳的问题。 | ||
| 搜索关键词： | ecg 自动 测试 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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