[发明专利]一种采用近场微波显微镜对样本中重金属的检测方法在审
| 申请号： | 202310774957.0 | 申请日： | 2023-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN116794072A | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 郭俊涛;吴喆;刘昊;刘浩韵;魏召唤 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00;G01N21/84;G01N21/01;G06T7/00;G06V20/69;G06V10/774;G06V10/82 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 陈一鑫 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 该发明公开了一种采用近场微波显微镜对样本中重金属的检测方法，属于重金属含量检测技术领域。本发明相比于质谱法和两种光谱法，具有操作简单、设备及分析成本低的优势；相比于高光谱图像技术，具有测试结果范围窄，可控性高，分类识别模型训练需求样本数量较少；相比于计算机视觉技术，具有探测样品内外部结构和性质的能力，能够实现定量分析；相比于生物传感器检测技术，具有受物理环境影响小，不受化学环境影响的优势，检测结果稳定性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 近场 微波 显微镜 样本 重金属 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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