[发明专利]芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310786563.7 | 申请日： | 2023-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN116841811A | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 姚文强;骆劼行 | 申请（专利权）人： | 上海孤波科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463 | 代理人： | 刘凤 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易实验区碧波*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供了一种芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测试寄存器的位数和起始地址，及待测试数值；根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数，计算待测试寄存器的测试数量；根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数和待测试寄存器的测试数量，对待测试数值进行补零操作，得到初始待测试数值；将初始待测试数值拆分成至少一个与待测试寄存器的位数相同的目标待测试数值；通过目标待测试数值，对从起始地址开始的、与测试数量相同数量的待测试寄存器进行测试。通过本申请的方法，能够同时对多个芯片寄存器进行测试，以提高芯片寄存器的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 寄存器 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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