[发明专利]一种锂电极片品质追溯系统及方法在审

专利信息
申请号: 202310799413.X 申请日: 2023-06-30
公开(公告)号: CN116936747A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 胡旺辉;彭建林 申请(专利权)人: 深圳市曼恩斯特科技股份有限公司
主分类号: H01M4/139 分类号: H01M4/139;H01M4/04;H01M10/052;G01B11/00;G01G17/02;G01N9/02
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 刘静
地址: 518118 广东省深圳市坪山区龙田*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及品质追溯技术领域,公开了一种锂电极片品质追溯系统及方法,系统包括:极片分割单元、涂布单元、极片测量单元和控制单元;其中,极片分割单元,用于对待生产锂电极片进行物理分割;涂布单元,用于对物理分割后的锂电极片进行识别和涂布;极片测量单元,用于对涂布后的锂电极片进行测量;控制单元,用于控制极片分割单元、涂布单元和极片测量单元工作,收集极片物理分割过程、涂布过程和测量过程的数据进行存储,并根据存储的数据对锂电极片进行品质追溯。通过本发明能够精准区分锂电极片的良品和坏品,避免了锂电极片的坏品流往后续工序以及良品过杀报废的现象,使得锂电极片的优率统计更准确,对锂电极片的品质追溯更加便捷和全面。
搜索关键词: 一种 电极 品质 追溯 系统 方法
【主权项】:
暂无信息
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