[发明专利]产品表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202310801199.7 | 申请日： | 2023-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN116523916B | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 李忠新;左哲;徐宁;鲁怡;方婷婷 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/25;G06V10/44;G06V10/26;G06V10/762;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/0475;G06N3/045;G06N3/094 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李文清 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及图像处理技术领域，提供一种产品表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法将获取的产品的待检测图像输入至缺陷检测模型，由缺陷检测模型输出产品的缺陷检测结果。该方法采用了缺陷检测模型中的特征提取模块提取待检测图像的图像特征，并利用注意力细化模块提取图像特征的细化特征，如此可以增强缺陷检测模型的表达能力，显著提高缺陷检测模型的精度和鲁棒性。进而，不仅可以使通过特征解析模块得到的缺陷检测结果更加准确可靠。此外，由于初始模型的训练过程中采用了特征分离损失，可以使缺陷检测模型尽可能地分离缺陷和背景的语义成分，减少把背景误检成缺陷或漏检的情况出现，提高缺陷检测结果的准确性，降低误检率。 | ||
| 搜索关键词： | 产品 表面 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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