[发明专利]一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置及方法在审
| 申请号： | 202310808547.3 | 申请日： | 2023-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN116844442A | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 欧玉发;杨林 | 申请（专利权）人： | 四川上达电子有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 成都睿道专利代理事务所(普通合伙) 51217 | 代理人： | 胡可 |
| 地址： | 629000 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供了一种使用IO电平识别测试结果的压屏测试装置及方法，涉及压屏测试技术领域，其目的是提升压屏测试效率和测试系统的稳定性，包括多个TP测试模块和IO控制卡；TP测试模块的四个测试端口分别为测试状态输出端口、测试通过信号输出端口、测试失败信号输出端口和测试启动信号输入端口；TP测试模块的测试状态输出端口、测试通过信号输出端口和测试失败信号输出端口分别通过一个指示电路连接到所述IO控制卡的一个输入端；测试启动信号输入端口通过开关电路连接到IO控制卡的输出端。本发明具有测试可靠性高、效率高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 使用 io 电平 识别 测试 结果 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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