[发明专利]光晕测试方法及光晕测试设备有效
| 申请号： | 202310811603.9 | 申请日： | 2023-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN116540435B | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 何洋;谢俊烽 | 申请（专利权）人： | 惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市联鼎知识产权代理有限公司 44232 | 代理人： | 赵月芬 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请揭示一种光晕测试方法及光晕测试设备，该方案在待测显示装置选取出一个或多个待测试区域，以预设灰阶点亮目标测试区域，再获取距离目标测试区域预设范围之内的多个未点亮像素点所在位置的亮度，并获取各未点亮像素点所在位置的亮度对应的归一化灰阶；再基于亮度对应的归一化灰阶，获得目标测试区域对应测得的归一化灰阶差值信息；最后基于该一个或多个待测试区域所测得的归一化灰阶差值信息获得待测显示装置的光晕值。光晕测试结果与显示装置的实际显示品质密切相关，光晕测试结果能够准确代表显示装置的实际显示品质，且，该方式不会因为显示装置的不同造成无法准确代表显示装置的实际显示品质，能够普适于不同的显示装置。 | ||
| 搜索关键词： | 光晕 测试 方法 设备 | ||
【主权项】：
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