[发明专利]一种钽电容测试方法在审
| 申请号： | 202310827812.2 | 申请日： | 2023-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN116764997A | 公开（公告）日： | 2023-09-19 |
| 发明（设计）人： | 张明;徐鹏;崔强;余新飞;唐小东 | 申请（专利权）人： | 深圳市微特精密科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38 |
| 代理公司： | 广东合方知识产权代理有限公司 44561 | 代理人： | 潘文建 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及钽电容测试技术领域，公开了一种钽电容测试方法，包括递料组件，递料组件包括递料转盘，递料转盘处周设有若干递料治具，递料转盘外侧设有与其相邻设置的上料组件、出料组件以及多个检测组件，上料组件、出料组件和多个检测组件分别间隔周设与递料转盘的外侧，上料组件用于对待测钽电容进行上料，多个检测组件用于对钽电容进行多项性能测试，出料组件用于对完成测试的钽电容进行分类包装出料；通过在递料转盘处设置若干递料治具，以便于通过递料治具对待测钽电容进行抓取，再随着递料转盘的转动，将待测钽电容移动至不同的检测组件处，由检测组件对待测钽电容进行检测，以提高对钽电容的检测效率以及节约检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 钽电容 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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