[发明专利]一种基于FPGA的I2C从机的测试系统在审
| 申请号： | 202310862598.4 | 申请日： | 2023-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN116932295A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 梅卫春;卢志扬;杨振宇;朱根旺;梁来力 | 申请（专利权）人： | 华东师范大学 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/273 |
| 代理公司： | 上海思真远达专利代理事务所(特殊普通合伙) 31481 | 代理人： | 李娜 |
| 地址： | 200241 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于FPGA的I2C从机的测试系统，属于集成电路技术领域和接口测试领域，包括总线接入模块、参数解析模块、随机数生成电路模块、总线输出模块、SCL信号输出模块、SDA信号输出模块和检错模块，其中，所述总线接入模块与上位机相连接。具有低成本、易搭建、易携带、易移植、易上手等性能，能够调节I2C SCL占空比、频率且最大频率可超过协议规定，用户可以根据自己的特殊需求构造独特的测试场景，还可以作为原型验证的主要测试系统，作为芯片测试的备用测试系统，通信接口方式灵活多样，可通过串口/网口连接电脑，也可以通过i2c/SPI连接mcu等微控制芯片，用以下发命令和上报数据，同时具备功能可扩展性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga i2c 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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