[发明专利]磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法在审
| 申请号： | 202310885901.2 | 申请日： | 2023-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN116930843A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 田捷;卞忠伟;张泽宇;安羽 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 | 代理人： | 郭文浩;尹文会 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明属于磁粒子成像技术领域，具体涉及一种磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法，旨在解决现有的无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法需要对MPI装置中每个器件都进行单独的测量或计算，导致工作量大、校准过程所需时间长，调节麻烦的问题。本方法包括：采集磁粒子响应信号及电流强度信号，作为输入信号；基于输入信号，循环对MPI装置成像过程中无磁场点的瞬时位置进行相位自动调制；相位自动调制结束后，求解相位偏移的最优解；根据相位偏移的最优解，对MPI装置中无磁场点的瞬时位置再次进行相位自动调制，得到最终相位偏移校准后的瞬时位置、瞬时速度。本发明不需要对硬件进行设置，大大降低相位调制难度、方便人员操作。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 成像 磁场 瞬时 位置 相位 偏移 校准 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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