[发明专利]测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202310886203.4 | 申请日: | 2023-07-18 |
公开(公告)号: | CN116841850A | 公开(公告)日: | 2023-10-03 |
发明(设计)人: | 李欢 | 申请(专利权)人: | 北京云宽志业网络技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34 |
代理公司: | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人: | 翟姝红;潘琳玉 |
地址: | 100195 北京市海淀区东冉*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本公开实施例提供一种测试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:基于目标存储集群的压力测试参数,对所述目标存储集群进行压力测试;基于所述压力测试的写入数据和读出数据之间的数据差异程度和所述目标存储集群在所述压力测试中的性能变化情况,确定所述目标存储集群的压力测试结果。本公开实施例,可以对存储集群进行压力测试,提高压力测试的准确率。 | ||
搜索关键词: | 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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