[发明专利]一种电子元器件参数测试装置及方法在审
| 申请号： | 202310900424.2 | 申请日： | 2023-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN116930654A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 李浩;孙珍珍;孙洋;王习炜 | 申请（专利权）人： | 昆山明利威电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 重庆百润洪知识产权代理有限公司 50219 | 代理人： | 沈锋 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及测试技术领域，公开了一种电子元器件参数测试装置及方法，包括测试底板，在所述测试底板的一侧上设有测试中断开关，在所述测试底板上固定设有测试背板，在所述测试背板上固定设有元器件测试机构，在所述测试背板的顶端固定设有声光预警装置，与所述测试底板相邻设有操作装置，所述操作装置包括壳体，在所述壳体内固定嵌设有控制处理单元，所述测试机构通过连接线与所述控制处理单元连接，在所述壳体上设有显示屏，与所述显示屏相邻设有操作终端，所述操作终端与所述控制处理单元的输入端连接，所述显示屏和声光预警装置分别与所述控制处理单元的输出端连接。本发明测试省时省力，效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 参数 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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